| 名稱 | 電磁相容檢測技術研討會會議紀錄 |
| 日期 | 2003-03-11 |
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| 電磁相容檢測技術研討會會議紀錄 開會時間：九十二年三月十一日 開會地點：電氣檢驗科技大樓簡報室 主持人：謝科長翰璋 出席人員：詳如簽名單 會議決議： 1.自92年4月1日開始，測試照片、產品內部及結構照片應以清晰為原則，EMI對策元件、 電路板上零件及layout不可模糊，照片須可拍出IC編號。 2.電路板零件無法清楚拍攝時，應對電路板各部分作個別特寫；若實際上有困難無法拍 出IC編號，應將編號敘述在照片旁邊。 3.產品自進實驗室開始，至完成測試發行報告，期間所做的對策元件，不論是廠商或實 驗室所為，皆應在對策元件一覽表及測試報告中敘述清楚。 4.對策元件一覽表應能指示出每個對策元件所在的照片、照片中的位置，且在照片上特 別標示出來，使得其間可清楚地對應。 5.本局網站上之EMC申請案件查詢程式、單機版程式，若有相關問題，請洽本局資訊室 查詢。 6.本局已公告CNS13783-1標準90年1月30日版，實驗室執行家電產品測試時，請使用新 版標準。 7.鑒於舊版資訊產品EMI測試程式，可能無法完全測試所接的週邊，實有檢討更新的必 要，請各實驗室於一星期內，提供相關資料給本科龔子文先生，以進行整理改進。 8.本科現正發展一套視訊會議系統，以作為實驗室聯絡公務之用，請有興趣參與系統測 試的實驗室與本科陳誠章先生聯絡。 9.Cispr22 2000版，請教各位先進是否有問題，希望各實驗室利用BSMI會議上討論。 決議：由於新版CISPR22加入了ferrite clamp method，請各實驗室針對此測試方法收 集相關資料回覆給本科，再進行討論。 10.USB 2.0週邊市場上很少，請教各實驗室如何接(以一月份BSMI要求要接一半以上)？ 決議：本議題將由本科實際check各實驗室測試情況後，再進行討論。 11.根據 貴局九十年十二月五日電磁相容檢測技術研討會會議紀錄，宣告事項第三項之 一般電熨斗之Click量測方式乃依據7.3.4.11節量測，若本公司產品之Click符合 4.2.3.4之條件，可否依4.2.3.4量測？如蒙賜準，可否列入會議紀錄並即時生效？ 決議：家電產品若符合CNS13783-1標準4.2.3.4節之測試條件(喀嚦率 N≦5，且每一個 click持續時間≦10ms)，依據標準便可視為符合click限制值。 12.代TEAC詢問下列問題，若僅開發有特殊介面轉換板的NOTEBOOK用之CD-ROM DRIVE， EMI測試方面可否再追加一組介面轉換板，用一般PC來測試並行符合性聲明，待相對 應的NOTEBOOK於台灣市場上販賣時，再次實施EMI測試來做DOC驗証？ 決議：同意辦理。 備註：下次會議日期暫定九十二年四月十五日 1 |