| 名稱 | 電磁相容檢測技術研討會會議紀錄 |
| 日期 | 2003-01-09 |
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| 電磁相容檢測技術研討會會議紀錄 開會時間：九十二年一月九日 開會地點：電氣檢驗科技大樓簡報室 主持人：謝科長翰璋 出席人員：詳如簽名單 會議決議： 1.關於商品型式認可及驗證登錄申請案件，因農曆年關將至，廠商在1月15日前 投件申請之案件，本組將管控於1月30日前完成技術審查。 2.乙類之MotherBoard產品，需搭配具有ID之PC來測試，但目前許多新開發出來 之主機板，市面上仍找不到可使用的PC，請問該如何解決？ 決議：使用系統PC搭配測試，其內部零件可更換有ID之產品，但必須合理，且須 在報告中解釋清楚。（目前來看，應只有power supply的問題，其他配件 應都可滿足現況之要求） 3.EUT具有多個 USB 2.0、1394連接埠時，這些連接埠之週邊應如何測試？ 決議：(1)USB 2.0及1394 ports至少應各放一半週邊在測試桌上(3個port以下， 全放桌上；4個port時最少3台置放桌上)。另外一半週邊可置於測試桌 下、ground plane之上。 (2)所有週邊均須執行讀寫的動作，且data傳輸速度必須符合規格。 (3)測試報告中必須描述清楚。 4.Docking目前為非屬應施檢驗品目，但實際上功能愈來愈強，已非單純用來I/O 轉接，是否應列管較為適當？ 決議：擬請本局第三組研議。 5.個人PC或notebook在使用過一陣子後，OS會使CPU速度Auto down，但並非所有 BIOS皆可關閉OS此一功能，請問該如何測試？ 決議：實驗室測試時仍應使CPU操作在Full speed，且應在報告中說明如何達成 此一測試條件。 6.notebook使用者使用過程中會有一邊操作一邊充電的情形，且此種狀態下亦有 雜訊的產生，故實驗室測試時應先將battery放電放完，再進行測試。 7.Click分析儀在量測時 ， 針對4個頻率通道 ， 當其中一個頻率通道達到40個Click 之停止條件時，其它通道也應同時停止，並判斷出Click Rate？ 決議：實驗室做產品對策時，可用此方法判斷；但標準是否同意這個測試方法， 則暫時保留，等國際上更改標準再決定。 備註：下次會議日期暫定九十二年二月十八日 1 |