| 名稱 | 電磁相容檢測技術研討會會議紀錄 |
| 日期 | 2004-05-11 |
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| 電磁相容檢測技術研討會會議紀錄 開會時間：九十三年五月十一日 開會地點：電氣檢驗科技大樓簡報室 主持人：謝簡任技正翰璋 出席人員：詳如簽名單 決議事項： 1.今年7月1日開始，本局安規及EMC檢驗案件辦理流程有重大變革，在此進行宣 告： （1）家電產品之EMC案件目前是由台南分局審理，7月1日起台北地區受理的案 件由汐止電磁科審查，各分局受理案件照舊由台南分局審查。 （2）台北地區受理的安規及EMC檢驗案件，大部分將改由汐止電磁科統一審 理。往後送件時，安規及EMC兩份報告之產品內部照片若發現不同將判定 不合格處理。 （3） 今後技術研討會可能分成兩個部分 （安規及EMC） 召開，至於如何召開 （例 如上、下午）將重新討論。 2.系列申請若試驗室判定為免測試件，且電路圖、干擾源及對策元件表確認和原 申請一樣，則於系列申請送件時，試驗室可在報告中說明或由廠商切結說明， 不必再另行檢附上述文件。 3.干擾源表中主要干擾元件若增列second source，即使型號規格都一樣，還是 須加以驗證。 4.鑒於舊版資訊產品測試程式，可能無法完全測試所接的週邊，實有檢討更新的 必要，請各試驗室於一星期內，提供測試程式給本科龔子文先生，若程式不合 於要求，請試驗室進行修改。 討論事項： 1.因商檢局要求USB 2.0 port的最大架構須全接可讀寫的USB 2.0週邊，這在理 論上可能是EMI最大狀況的接法，但根據實務經驗USB 2.0的包覆線材普遍較 佳，容易帶出雜訊的反而是USB 1.0的週邊，因此建議商檢局能接受USB 2.0 與USB 1.0週邊各用一半的測法，如此也較符合使用者實際使用的情況（實際 案例：全接USB 2.0週邊480MHz class B under 6dB，接上一個USB 1.0滑鼠變 成over 1.6dB） 。目前像Intel等公司的產品也都要求這樣的測試方法。 （緯創 公司提案） 決議：（1）依92.06.26會議記錄決議，產品USB 2.0 port的測試，目前同意最 少接2個USB 2.0週邊，其餘可接USB 1.1週邊，且原則上應使用可執 行 read/write 功能的週邊做測試，並無要求USB 2.0 port須全接可 讀寫USB 2.0週邊的情形。 （2）若試驗室應客戶的需求，在USB 2.0 port的測試時，針對連接不同 1 數量的USB 2.0、USB 1.1週邊，及可 read/write 或不可 read/write 的週邊均加以驗證，並找出一個worst case配置，則本局可接受此USB 週邊配置，惟測試報告須說明清楚，如果案件審核人員有疑問將予以 抽測，抽測時審核人員可任意選擇USB 2.0或USB 1.1，及可 read/write 或不可 read/write 的週邊測試。 備註：下次會議日期暫定九十三年六月二十三日 2 |